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EP1K10FC256-2N存儲芯片優質供應商

發布時間:2019/10/15 17:33:00 訪問次數:49發布企業:深圳振華航空半導體有限公司

在最原始的測試過程中,對集成電路(IntegratedCircuit,IC)的測試是依靠有經驗的測試人員使用信號發生器、萬用表和示波器等儀器來進行測試的。這種測試方法測試效率低,無法實現大規模大批量的測試。隨著集成電路的集成度和引腳數的不斷增加,工業生產上必須要使用新的適合大規模電路測試的測試方法。在這種情況下,集成電路的自動測試儀開始不斷發展。 現在國內的同類型產品中,一部分采用了單片機實現,這部分儀器分析速度慢,難以用于大規模的測試系統之中,并且在管腳的擴展性上受到嚴重的限制。另一部分使用了DSP芯片,雖然功能上較為完善,但造價不菲,實用性能有限。本文的設計是基于FPGA實現邏輯芯片的功能故障測試。由于FPGA芯片價格的不斷下降和低端芯片的不斷出現,使用FPGA作為主控芯片可以更適合于市場,且有利于對性能進行擴展。實驗表明,該系統設計合理,能對被測芯片進行準確的功能測試。 基于FPGA來實現邏輯芯片的功能故障測試 基于FPGA來實現邏輯芯片的功能故障測試 元件裝入測試設備,測試設備執行測試程序,將輸入模板序列應用于被測元件,比較得到的和預期的響應。如果觀察到不同,則表示元件出錯,即該元件功能測試不合格。該測試系統由下位機硬件電路和上位機測試軟件兩大部分構成。系統采用功能模塊化設計,控制靈活,操作簡單,而且采用ROM存儲測試向量表庫,方便以后的芯片型號添加和擴展,有很好的實際應用性。 系統硬件主要由FPGA控制器模塊、串口通信模塊、電平比較模塊和測試平臺模塊構成,其結構如圖1所示。 控制器模塊選用Altera的FPGA芯片EP3C16Q240C8N,配置芯片選用EPCS4.控制器由使用VerilogHDL硬件語言實現了包括串口接收模塊、數據轉換與測試保護模塊和串口發送模塊三個部分的功能設計。串口接收模塊完成與串口芯片MAX3232進行通信,接收由上位機發送來的測試指令;數據轉換與測試保護模塊產生實現一個類似于D觸發器的保護器,對測試端的被測芯片輸出腳進行雙保護,保證其在測試后的回測值不受初值影響;串口發送模塊將測試后得到的數據組合為一個回測寄存器,并按照串口通信協議將回測數據發送回上位機。

串口通信模塊選用MAX3232芯片,現串口的全雙工數據傳輸。E818電平比較電路為邏輯功能測試的核心硬件部分。E818是SEMTECH公司專門針對ATE邏輯功能測試而開發的窗口比較器芯片,它解決了被測對象DUT芯片的雙向輸入數據電平要求。

EP2S90F1508I4
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